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晶合集成获得发明专利授权:“监控波像差的方法”

晶合集成獲得發明專利授權:「監控波像差的方法」

證券之星 ·  08/30 14:40

證券之星消息,根據天眼查APP數據顯示晶合集成(688249)新獲得一項發明專利授權,專利名爲「監控波像差的方法」,專利申請號爲CN202410806461.1,授權日爲2024年8月30日。

專利摘要:本發明提供了一種監控波像差的方法,通過收集測試掩膜對應的曝光後的CD值及CD偏差來獲得波像差補償值,並將獲得的波像差補償值反饋給成像系統進行修正,而採用的測試掩膜包括多個掩膜圖形,每個掩膜圖形包括多個掩膜子圖形,每個掩膜子圖形包括多個橫向圖形和多個縱向圖形,多個橫向圖形和多個縱向圖形均呈環狀陣列分佈。由於每個掩膜子圖形中的多個橫向圖形和多個縱向圖形均呈環狀陣列分佈,因此本發明能從多個角度監控波像差差異,並反饋給成像系統進行修正,可以獲得理想的波前成像。

今年以來晶合集成新獲得專利授權216個,較去年同期增加了64.89%。結合公司2024年中報財務數據,今年上半年公司在研發方面投入了6.14億元,同比增22.27%。

數據來源:天眼查APP

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