生成AIの流行、半導体検査装置に好影響の背景
6/30(日) 16:10配信
生成人工知能(AI)の流行が、半導体検査装置各社に好影響を及ぼしている。生成AIにはDRAMを複数積層する広帯域メモリー(HBM)が使われるが、従来のDRAMに比べ複雑なためテスト負荷が高く、検査装置の重要性が高まっている。今後も市場拡大が見込まれており、各社は巨大需要獲得を目指し、狙いを定める。
生成人工知能(AI)の流行が、半導体検査装置各社に好影響を及ぼしている。生成AIにはDRAMを複数積層する広帯域メモリー(HBM)が使われるが、従来のDRAMに比べ複雑なためテスト負荷が高く、検査装置の重要性が高まっている。今後も市場拡大が見込まれており、各社は巨大需要獲得を目指し、狙いを定める。
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コメント
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麦マル : お疲れ様です。![blush 😊](https://static.moomoo.com/nnq/emoji/static/image/img-apple-64/1f60a.png)
![man-bowing 🙇♂️](https://static.moomoo.com/nnq/emoji/static/image/img-apple-64/1f647-200d-2642-fe0f.png)
いつも最新記事と解説ありがとうございます
これからも宜しくお願いします