生成AIの流行、半導体検査装置に好影響の背景

生成AIの流行、半導体検査装置に好影響の背景（ニュースイッチ） - Yahoo!ニュース(一部抜粋)

6/30(日) 16:10配信
生成人工知能（AI）の流行が、半導体検査装置各社に好影響を及ぼしている。生成AIにはDRAMを複数積層する広帯域メモリー（HBM）が使われるが、従来のDRAMに比べ複雑なためテスト負荷が高く、検査装置の重要性が高まっている。今後も市場拡大が見込まれており、各社は巨大需要獲得を目指し、狙いを定める。